Messsysteme
microDAC® TL - Thermisches in-plane Messsystem
Thermisches in-plane-Deformationssystem microDAC® TL

Als Zusatzkomponente des thermischen out-of-plane Messsystem MicroProf® TL ist es mit microDAC® TL zusätzlich möglich in-plane Verschiebungsfelder von einzelnen elektrischen Komponenten bis hin zu kompletten Baugruppen zu untersuchen.

Der Hochpräzisions Kameraaufbau ermöglicht es zusätzlich zur Verwölbungsmessung globale und lokale Deformationsfelder mit einer Genauigkeit bis zu 50nm zu ermitteln.

Insbesondere in Verbindung mit der numerischen Simulation ist das System sehr nützlich. Thermomechanische Materialdaten (CTE) können als Input für die Simulation ermittelt, und auch die Simulationsergebnisse können mit Hilfe der Deformationsmessung verifiziert werden.

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Anwendungsgebiete

Das Multi-Sensor-Messsystem MicroProf® TL wird zur hochaufgelösten 3D-Deformationsmessung thermisch beanspruchter Messobjekte im Mikrobereich eingesetzt. Es erfolgt im System eine automatisierte thermische Messung in Kombination des kamerabasierten Systems microDAC® TL zur in-Plane Dehnungs- und Deformationsmessung mit einem chromatischen Sensor zur Ermittlung von Höhenprofilen bzw. Höhenprofiländerungen (Verwölbungen).

Ein großes Einsatzfeld des MicroProf® TL liegt im Bereich der thermomechanischen Optimierung elektronischer Systeme.

Anwendungsgebiete sind

  • Aufklärung von thermomechanischen Verformungs- und Schädigungsmechanismen
  • Ermittlung thermischer Ausdehnungsdehnungskoeffizienten in lokalen Materialbereichen mit höchster Genauigkeit
  • Charakterisierung von Fügeverbindungen (z. B. Löt-, Sinter- oder Klebeverbindungen) im Querschliff des Materialverbundes bzw. elektronischen Aufbaus
  • Experimentelle Verifizierung von FE-Simulationsergebnissen zur Zuverlässigkeitsbewertung
Technische Spezifikation
Basissystem MicroProf® TL:
  • Optische Oberflächenmessung bei unterschiedlichen Probentemperaturen
  • programmierbare Temperaturregelung
  • von -40° bis 400°C
  • hohe Heiz- und Kühlrate
  • Temperaturstabilität: < 1°C
  • voll automatisiert
MicroProf® TL Add-on microDAC® TL
Specification Out-of-plane In-plane
Signal processing Intensity Grayscale
Kind of scan Point type Field type
Field of view 300 x 300mm² from 2.2 x 1.8mm²
up to 34.1 x 28.5mm²
Resolution lateral
(Displacement / Strain)
up to 6.0µm up to 0.09µm / 0.005%
Resolution vertical 0.25µm 1.0µm
Thermische In-plane- Deformationsmessung mit microDAC® TL
Thermische In-plane- Deformationsmessung
mit microDAC® TL
In-plane Deformationsmessung im Querschnitt einer Leiterplatte
In-plane Deformationsmessung
im Querschnitt einer Leiterplatte
Multisensorsystem MicroProf® TL zur 3D-Deformationsmessung mit höchster Genauigkeit
Multisensorsystem MicroProf® TL
zur 3D-Deformationsmessung mit höchster Genauigkeit
Thermische Verwölbung und In-Plane-Deformation an einer elektronischen Komponente (BGA) mit microProf® TL
Thermische Verwölbung und In-Plane-Deformation
an einer elektronischen Komponente (BGA) mit microProf® TL
 
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